顶刊解读|DIW直写制备微发火元件:低能耗快速响应含能3D打印工艺

针对含能材料、MEMS微发火器件研发需求,铂邦为专业DIW增材制造整机生产厂商,可根据科研、量产需求,提供标准化打印整机、软硬件系统定制、专属浆料工艺全流程技术服务。

本篇成果发布于传感器领域权威期刊Sensors & Actuators: A. Physical,由法国国家科研中心LAAS实验室团队完成。研究创新性融合DIW浆料直写与PVD物理气相沉积两种制造工艺,解决传统纳米含能多层薄膜载药量低、制备周期漫长、点火性能单一的行业痛点,打造可灵活调控点火延迟、激发能量的微型发火芯片,在航空安防、MEMS自毁器件、柔性火工元件领域具备极高应用价值。

传统半导体桥SCB微发火装置依赖高温等离子激发,设备功耗要求高,难以适配小型化民用电子器件;磁控溅射制备的反应多层薄膜虽响应快,但单次成型含能物料量极低,且设备成本昂贵,无法批量定制多组分配方。而DIW 3D打印工艺凭借配方灵活、成型厚度可控、设备成本低的优势,成为该论文核心创新突破口,可直接在金属桥芯片表面涂布纳米含能浆料,自由调控药剂组分与沉积厚度。

MEMS金属桥基底标准制备流程

整套微型发火芯片基底采用光刻、溅射、剥离微加工工艺制备5×5mm金属电阻桥,对比铬、钛两种电阻金属材料后,选定钛薄膜作为核心发热层。钛与氧化铜含能材料接触时氧化放热反应更剧烈,可大幅降低整体点火输入能量,基底成品电阻稳定控制在2Ω左右,表面平整度更适配后续DIW增材制造涂布。

MFB芯片光刻制备全流程示意图
配图1:原文图1,金属薄膜桥光刻、溅射、剥离全套加工工序

两种含能层成型工艺对比:PVD溅射 vs DIW浆料直写

论文设计两套含能薄膜制备路线,形成性能互补方案:其一为磁控溅射CuO/Al纳米多层膜RMFB;其二自主调配Al/Ti/CuO基纳米含能墨水,采用DIW直写工艺成型EMFB器件。溅射多层膜点火速度可达微秒级,但载药量极低、制备耗时久;而DIW打印可一次性沉积毫克级含能药剂,火焰亮度更高、燃烧持续时间更长,同时墨水配方可自由调整钛粉掺杂比例,灵活改变器件点火阈值。

含能墨水以PVDF为粘结剂,纳米铝、钛、氧化铜颗粒均匀分散,溶剂挥发后成型无明显分层,适配实验室可控容积式DIW挤出打印平台,可精准控制涂布区域边界,搭配光刻成型围槽实现药剂定量沉积。

成品芯片实物与多层膜SEM截面图
配图2:原文图4,单颗微发火器件实物、溅射多层膜电镜断面表征

DIW直写含能器件全套成型工序

依托光刻干膜在金属桥芯片表面构筑封闭储料围槽,再通过DIW浆料直写将纳米含能墨水精准填充至槽体内部,80℃低温烘干后即可完成发火器件制备。整套流程无需高真空溅射设备,工艺门槛大幅降低,墨水组分可按需调整钛粉掺杂比例,实现点火延迟、激发能量、火焰强度多维度调控。

测试数据表明纯钛铜基DIW打印器件最低点火能量仅14mJ,点火延迟2ms;铝钛复合配方兼顾低能耗与高发光强度,适配绝大多数微型火工、MEMS安全器件研发需求。同时论文验证PVD+DIW复合工艺,表层溅射快速反应多层膜、底层直写厚层含能药剂,兼顾超快响应与高能量输出双重优势。

DIW直写含能器件完整制备工艺流程
配图3:原文图6,干膜覆膜、UV曝光、显影、DI墨水挤出全流程

工艺工程应用价值

1、DIW 3D打印大幅降低微型发火元件研发门槛,无需高端磁控溅射设备,实验室标准化挤出设备即可完成多组分含能药剂成型;

2、墨水配方可调,钛粉掺杂比例自由更改点火性能,可匹配航空、安防、芯片自毁等不同工况要求;

3、支持PVD溅射与DIW直写复合制造,结合快速点火与高能量释放两大优势,拓展微含能器件设计思路;

4、成型药剂厚度可控,载药量远高于溅射薄膜,大幅提升器件做功与发光效果,适合对输出能量有要求的科研样机开发。

本论文的含能材料DIW浆料直写成型方案,可适配科研单位全套实验需求。铂邦可提供标准化打印整机、软硬件系统定制、专属浆料工艺全流程技术服务。

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